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为什么说lcr数字电桥很难测高Q和低D

  LCR电桥Q值和D值测量是依据一下原理公式:
为什么说lcr数字电桥很难测高Q和低D,LCR电桥Q值和D值测量是依据一下原理公式

  假定Q = 100, 则ESR 为 1/100 的XL。可见,ESR 在Z = ESR + j*XL 中占的分量比较小,所以仪器或测量环境引起ESR 微弱的变化都会被放大100 倍,反应出的现象就是:Q 值稳定性不好或测量数据跳动较大。同样的道理也适用于电容D 的测量。

  用户能做的就是尽量选择好一点的测试夹具改善效果,原则:能用0m 的不要用1m 的,能用4 端测量不要用2 端测量。

  为什么有时候测出来的损耗值D 是负的?

  理论上,损耗值D 应恒为正,但在极低损耗的情况下,仪器仍可能会测出负的D 值,如-0.00001,正如上面分析的超低损耗的电容ESR 极小,一般已经超出了仪器测量的精度范围,仪器测量的随机噪声可能使ESR 为负,因此大家认为这种负值显示也是正常的。

  另外,对于高精度的损耗测量,大家建议直接在端面夹具上进行测量,同时建议用户进行可靠的开路短路清零,而引出的电缆线将使损耗的测量精度大大降低。

  另外,也有可能是用户过度清零引起的。

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